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dc.contributor.advisorMousseau, Normandfr
dc.contributor.authorKallel, Houssemfr
dc.date.accessioned2012-05-28T13:55:41Z
dc.date.available2012-05-28T13:55:41Z
dc.date.issued2008-08-07fr
dc.date.submitted2008fr
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/1866/8027
dc.subjectSilicium amorphefr
dc.subjectRelaxationfr
dc.subjectStructurefr
dc.subjectDéfauts de liaisonfr
dc.subjectSurface d'énergie potentiellefr
dc.subjectNano-calorimétrie différentielle à balayagefr
dc.subjectAmorphous siliconfr
dc.subjectRelaxationfr
dc.subjectStructurefr
dc.subjectRadial distribution functionfr
dc.subjectBond defectsfr
dc.subjectPotential energy surfacefr
dc.subjectDifferential scanning nano-calorimetryfr
dc.titleEffets de la concentration des défauts sur la surface d'énergie potentielle du silicium amorphefr
dc.typeThèse ou mémoire / Thesis or Dissertationfr
etd.degree.disciplinePhysiquefr
etd.degree.grantorUniversité de Montréalfr
etd.degree.levelMaîtrise / Master'sfr
etd.degree.nameM. Sc.fr
dcterms.descriptionMémoire numérisé par la Division de la gestion de documents et des archives de l'Université de Montréal.fr
dcterms.languagefrafr


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