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Analyse SAXS de traces ioniques causées par bombardements d’ions d’or dans des échantillons de silicium amorphe
(2020-06-04)Le mémoire qui suit vise à vérifier si la formation de traces latentes par des ions lourds et rapides passe par une phase liquide. Compte tenu du fait que le processus de formation des traces est trop rapide pour être directement étudié, notre expérience ...